Transmission electron microscopy of silicon VLSI circuits and structures
كتاب من تأليف: Marcus, R. B. ; Sheng, T. T. ; نشر في: 1983
طبعة:
New York:
Wiley
لغة:
إنجليزية
الوصف المادي:
217 p.
;29 cm
ISBN: 0471092517
الفهرس العشري
621.381 .الإلكترونيات التطبيقية (الإلكترونيات الدقيقة)