img

تفاصيل البطاقة الفهرسية

Introduction du phénoméne de vieillissement dans un modéle à charges distribuées du transistor MOS

Etude de faisabilité

الأطروحات و الكتابات الأكاديمية من تأليف: Selmani, L. ; Rabhi, Abdelbaki ; نشر في: 1993


لغة: فرنسية
الوصف المادي: 88 p. ill. ;30 cm
الشهادة: Magister
مؤسسة مناقشة الرسالة: Constantine, Universite de Constantine. Institut d'Electronique
تخصص: Electronique
الفهرس العشري 600 .التكنولوجيا (العلوم التطبيقية)
الموضوع الإلكترونيك

الكلمات الدالة:
MOS (électronique)

ملاحظة: Bibliogr.pp.[1-2]

Introduction du phénoméne de vieillissement dans un modéle à charges distribuées du transistor MOS

الفهرس